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Chambre de choc thermique GT-F56

Fournisseurs Fabricants de chambres à choc thermique
  • Marque:

    GESTER
  • N° darticle:

    GT-F56
  • Commande (MOQ):

    1
  • Paiement:

    T/T, L/C
  • Délai de mise en œuvre:

    25 days
  • Les détails du produit

Chambre d'essai de choc thermique GT-F56


Présentation du produit du testeur de choc thermique


Application :

Le Testeur de choc thermique (2 chambres) est destiné à tester les changements chimiques ou les dommages physiques des matériaux composites après qu'ils aient subi des changements extrêmes de température.

Il est largement utilisé dans des industries telles que les composants électroniques et électriques, les pièces d'automatisation, les composants de communication, les pièces automobiles, les métaux, les matériaux chimiques, les plastiques, etc. Il est couramment utilisé pour tester les changements physiques des matériaux utilisés dans l'industrie de la défense, l'aérospatiale, l'industrie militaire, les BGA, les substrats PCB, les puces électroniques IC, les céramiques semi-conductrices et les matériaux polymères.

Caractéristique :

  1. Deux chambres d'essai divisées en zones hautes et basses températures. L'échantillon se déplacera entre les 2 zones lors de l'impact.
  2. L'interface de contrôle des figurines à écran tactile est facile à utiliser.

Normes :

GJB150.3-86 ; GJB150.4-86 ; GJB150.5-86;

GB-2423.1-2008(IEC68-2-1)A : Méthode de test à basse température

GB-2423.2-2008(IEC68-2-2)B : Méthode de test à haute température

GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)Test de durée de vie à haute température

GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)Test de durée de vie à haute température


Spécifications clés de la chambre à choc thermique

Modèle

GT-F56A

dimensions extérieures (L*H*P)

1300 * 2050 * 1500 mm

Dimensions du panier (L*H*P)

600 * 500 * 500 mm

Température de la chambre haute température

RT +10~180

Temps de montée de la chambre haute température

RT ~180â â¤45min

Température de la chambre basse température

-60~45

Temps de montée de la enceinte à basse température

RT ~125â â¤45min

RT ~-60â â¤70min

Uniformité de la température

±2,0â

Fluctuation de la température

±0,5â


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